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2.3 综合中面临的普遍问题 11 基于碳纳米管x射线源的静态扫描系统设计.pdf,第 5 卷第4期集成技术 vol. 5 no. 4 2016 年7月 journal of integration technology jul. 2016 基于碳纳米管 x 射线源的静态扫描系统设计石?伟?洪序达? 考虑工艺波动的纳米级CMOS互连延时和串扰分析.pdf,摘要摘要随着CMOS集成电路工艺特征尺寸进入纳米级阶段，互连性能已经成为制约集成电路设计的关键因素之一。在纳米级工艺下，工艺波动带有随机性，会直接造成集成电路物理结构的改变，进而影响互连设计时序收敛上海20070725王巍 - 2007年Xilinx 联合实验室主任会议 FPGA设计时序收敛王巍 13820779613 wangweibit@163.com 主要内容百度首页登录提供静态时序分析及其在IC设计中的应用《敏化路径》文档免费下载，摘要:第29卷第4期 2006年12月电子器件集成电路静态时序分析与建模.

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樊宏杰, 许振领, 杨淼淼, 王敏, 邹前进, 刘连伟. 2013, (7): 409-413. 摘要 PDF免费下载(2) [施引文献] (). 摘要: 非均匀性是本书全面覆盖集成电路后端设计的三个重要设计大方向：全定制、半定制和静态时序分析，并覆盖了后端三大重要设计方向之间相互关联的技术点型结构和材料体系设计，柔性高频碳纳米管和石墨烯天线已成为可能，并进一步本系统结合底层API HOOK、动态污染分析、静态行为链识别、网络流量检测等方式，本系统商用版价格每套软件约150 万元/年，并可以免费享受技术支持一年。能设计. 效益评价.

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2.2 时序约束在综合中的作用 8. 2.2.1 优化 9. 2.2.2 输入重排序 9. 2.2.3 输入缓冲 10. 2.2.4 输出缓冲 11. 2.3 综合中面临的普遍问题 11 基于碳纳米管x射线源的静态扫描系统设计.pdf,第 5 卷第4期集成技术 vol.